RENISHAW XL80 高性能雷射干涉仪是机床、三次元坐标量床及其它定位装置
精度校准用的高性能仪器, 由于最新电子技术的应用,使其镭射波长非常稳定, 并
保持了低成本高效率的工作流程.

测量速率：205，000次测量/秒 扫描区域：275mm*250mm 分辩率：0.050mm
精度：最高 0.030mm 体积精度：0.02+0.06mm/m 基准距：300mm
景深：250mm 部件尺寸范围：0.1-4m

测量速率：480，000次测量/秒 扫描区域：275mm*250mm 分辩率：0.050mm
精度：最高 0.030mm 体积精度：0.02+0.06mm/m 基准距：300mm
景深：250mm 部件尺寸范围：0.1-4m

激光跟踪仪坐标测量不确定度： 全量程范围：15μm+6μm/m
标准量程范围
（2.5*5*10m）：10μm+5μm/m最大测量距离：
IFM: 25M (半径)ADM: 9M (半径) 水平方向：360⁰ 垂直方向：±45⁰

机床定位和运动误差检测技术 以亚微米精度进行校正和检定

特点：体积小，重量轻，提升力大，活动关节灵活可调；探头间距：0-250mm可调
灵敏度：A型试片、条型试片显示清晰；提升力：D型磁轭探头：AC大于5Kg，
DC大于36Kg；应用： 交直流，适用于大型铁磁材料及零部件的局部探伤；235*115*160mm